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MOS管作为开关时的电平有效性问题。详细解析NMOS和PMOS管的结构差异,阐明何为高电平有效、何为低电平有效,并给出实用的电路设计指南和选型建议,帮助您彻底理...
从源端看向MOS管的阻抗特性,揭秘其独特的负阻抗现象及其对电路稳定性的影响,并详细探讨在共栅放大器和源极跟随器等电路中的阻抗分析与应用。
“MOS管放大倍数”的常见误区,深入解析其核心参数——跨导(gm)的定义与计算方法,并详解MOS管电压放大电路的增益公式,帮助读者正确理解与应用MOS管的放大能...
MOS管击穿的六大常见原因,包括过压、静电、雪崩、热失控、寄生导通和体二极管失效,并提供实用的预防与保护电路设计指南,帮助工程师提升电路可靠性。
MOS管阈值损失的成因与影响,详细探讨其在模拟开关和功率开关电路中的危害,并提供自举电路、电荷泵等多种实用的解决方案,帮助工程师彻底解决栅极驱动电压不足的难题。
高频MOS管电路的工作原理,详细分析开关损耗、寄生参数等设计挑战,并提供栅极驱动、PCB布局与散热优化的实用解决方案,涵盖射频与开关电源等核心应用。
MOS管推挽电路的工作原理,详解其核心优势、关键设计挑战(特别是死区时间),并探讨其在DC-DC变换器、电机驱动和H桥电路中的核心应用,为电源与功率驱动设计提供...
MOS管与IGBT对比指南。从结构原理、V-I特性曲线到导通损耗与开关损耗的权衡,深入解析如何根据电压、电流和频率正确区分与选择MOS管或IGBT,适用于电源、...
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