在功率半导体发展的历史长河中,PLANAR MOS管(平面型金属氧化物半导体场效应晶体管)占据了不可替代的基础地位。作为最早实现商业化应用的MOSFET结构,平面技术至今仍在特定应用领域发挥着关键作用。本文将全面解析PLANAR MOS管的技术原理、发展历程、性能特点及其在现代电子系统中的持续价值,为工程师提供从基础理论到实际应用的全方位指南。
技术原理:平面结构的经典设计
基本结构构造
PLANAR MOS管采用横向导电结构,其名称“平面”源于所有关键元件都制造在硅片表面的同一平面内。核心结构包括:
栅极结构:多晶硅栅极水平放置在硅表面上方,通过薄层二氧化硅与硅衬底隔离
导电沟道:在栅极电压控制下,硅表面形成的反型层作为电流通道
源极与漏极:位于栅极两侧的重掺杂区域,通过金属接触实现电气连接
体区:轻掺杂的衬底层,提供器件的基本结构支撑
工作原理简述
当栅极施加足够电压时,会在P型衬底表面形成电子富集的反型层,连接源极和漏极形成导电沟道。栅压移除后,沟道消失,器件关闭。这种电压控制机制使其具备高输入阻抗和低驱动功率的优势。
发展历程:技术演进的里程碑
技术发展时间线
1960年代:贝尔实验室发明MOSFET概念,奠定平面技术基础
1970年代:第一代商业平面MOSFET问世,开启功率半导体新纪元
1980年代:工艺优化实现更低导通电阻,应用范围不断扩大
1990年代:面临沟槽技术的竞争,转向高压和特殊应用领域
21世纪:在高压(≥500V)领域保持技术优势,工艺持续精细化
从平面到立体的转折点
2000年前后,随着消费电子产品对功率密度要求的急剧提高,传统平面结构在低电压应用中的局限性日益明显。沟槽(TRENCH)技术的兴起逐渐取代了平面MOSFET在低压大电流领域的主导地位,但平面技术凭借其独特的优势在高压领域找到了新的生存空间。
性能特点:优势与局限的平衡
技术优势分析
高电压耐受能力:平面结构天然的横向电场分布特性,使其更容易实现高压设计。通过调整外延层厚度和掺杂浓度,可以优化击穿电压与导通电阻的平衡。
工艺成熟稳定:超过五十年的发展使平面工艺极其成熟,良品率高,成本可控,特别适合对可靠性要求极高的工业应用。
热稳定性优异:热量在水平方向均匀分布,避免局部热点,提高了器件长期工作的可靠性。
栅极可靠性高:平面栅氧层受应力较小,缺陷密度低,栅极寿命显著优于部分先进三维结构。
固有局限性
导通电阻较高:电流路径的横向特性导致电阻较大,限制了其在低压大电流应用中的竞争力。
功率密度受限:单位芯片面积的有效沟道宽度有限,难以实现高功率密度。
开关速度瓶颈:较大的寄生电容限制了高频性能,通常工作频率低于100kHz。
现代应用领域:不可替代的经典技术
高压功率系统
工业电机驱动:交流电机驱动器、变频器控制电路中的高压开关元件
电源供应系统:高压DC-DC转换器、离线式开关电源的初级侧开关
照明电子:高强度气体放电灯镇流器、高压LED驱动电路
汽车电子系统
新能源汽车:车载充电机(OBC)高压侧、高压辅助系统
传统汽车:点火系统、燃油喷射控制等高压应用
特殊应用场景
高可靠性需求:航空航天、医疗设备、工业控制等对长期稳定性要求极高的领域
成本敏感应用:传统家电、基础工业设备等注重性价比的市场
关键技术演进:平面技术的现代化改造
平面VDMOS结构
垂直双扩散MOS(VDMOS)是平面技术的重要演进,通过双重扩散工艺形成精确的沟道控制,结合垂直电流路径设计,显著提高了性能。
超结技术集成
平面结构与现代超结(SuperJunction)技术的结合产生了革命性的变化。通过交替的P/N柱结构,在保持平面工艺优势的同时,大幅改善了高压器件的导通特性。
先进栅极技术
虽然保持平面布局,但栅极结构已从传统单层多晶硅发展为复合结构,栅氧质量不断提高,可靠性进一步增强。
选型与应用设计指南
参数选择要点
电压等级选择:平面MOS管最适用于500V以上的高压应用,选择时需考虑20-30%的电压裕量
导通电阻考量:在高压应用中,Rds(on)与BVdss的平衡是关键设计参数
热性能评估:平面结构的散热特性需要匹配适当的散热设计
封装匹配:高压应用常采用TO-247、TO-264等大尺寸封装,确保散热和绝缘需求
驱动电路设计
平面MOS管的栅极电荷通常较高,需要:
充足的驱动电流确保快速开关
适当的栅极电阻抑制振荡
考虑米勒平台效应,避免误导通
保护电路设计
高压应用特别需要注意:
过电压保护(如RC缓冲电路、TVS管)
过电流检测与保护
温度监控与热关断
技术对比:平面 vs. 沟槽 vs. SGT
| 技术参数 | 平面MOS管 | 沟槽MOS管 | SGT MOS管 |
|---|---|---|---|
| 适用电压范围 | 高压优势(>500V) | 中低压优势(30-250V) | 低压优势(<200V) |
| 导通电阻 | 相对较高 | 显著降低 | 极低 |
| 工艺复杂度 | 简单成熟 | 中等 | 复杂 |
| 制造成本 | 最低 | 中等 | 较高 |
| 高频性能 | 有限(<100kHz) | 优秀(可达MHz) | 优秀(可达MHz) |
| 可靠性记录 | 最悠久 | 良好 | 逐步验证中 |
未来展望:经典技术的持续价值
技术演进方向
高压领域深耕:继续优化1000V以上超高压器件的性能,满足新能源电网、工业变频等需求
宽禁带材料融合:平面结构与碳化硅(SiC)技术的结合,开发下一代高压高效器件
智能集成发展:将保护、监测、驱动功能集成到平面功率器件中,形成智能功率模块
市场定位演变
虽然在中低压领域已被更先进技术取代,但平面MOS管在以下领域仍具独特优势:
对成本极为敏感的传统应用
对长期可靠性有严苛要求的特殊领域
现有系统维护和替换市场




